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由于 LED 技術(shù)的飛速發(fā)展，新結(jié)構(gòu)、新工藝層出不窮，LED 的可靠性問(wèn)題仍然十分突出。LED 的壽命與器件工藝和工作條件有著密切的關(guān)系 ，針對(duì) LED 在大電
對(duì)于 LED 光源的可靠性失效分析，一般采用加大應(yīng)力 (如高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力等) 的方法對(duì)樣品進(jìn)行加速老化 ，這樣可在短時(shí)間內(nèi)得到樣品失效信息并對(duì)其可靠性進(jìn)行分
LED模塊溫濕度加速老化試驗(yàn)箱是用于測(cè)試LED（發(fā)光二極管）在高低溫濕熱條件下的性能的設(shè)備。LED在不同環(huán)境下受到影響，試驗(yàn)箱可以模擬自然界中的濕熱環(huán)境，評(píng)估L
目前 LED 產(chǎn)品擁有幾萬(wàn)小時(shí)的壽命，無(wú)法短時(shí)間內(nèi)發(fā)生老化失效現(xiàn)象，因此為了研究 LED 產(chǎn)品老化機(jī)理，我們將 LED 產(chǎn)品放置于高溫高濕的環(huán)境下通過(guò)加速老化的
LED 在高溫高濕下的工作壽命試驗(yàn)是利用恒定的溫度濕度和電流對(duì) LED 進(jìn)行加速老化，根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果得出LED在此溫濕度下的工作壽命從而建立 LED 工作壽命與溫
LED燈珠的功能大多都會(huì)遭到周遭環(huán)境的溫濕度影響，如果長(zhǎng)時(shí)間處于濕潤(rùn)環(huán)境，LED燈珠電子設(shè)備，金屬部件不久就會(huì)破壞。因此，LED燈需要在led濕熱可靠性試驗(yàn)設(shè)備
對(duì)于 LED 來(lái)說(shuō)，使其老化加速的因素包括高溫、大電流和較高的相對(duì)濕度等。高溫加速 LED器件老化的機(jī)制是較高的溫度會(huì)加快化學(xué)反應(yīng)速度，引起封裝材料的退化隨著溫
led燈珠在溫濕度環(huán)境下的工作應(yīng)力試驗(yàn)是利用恒定的溫濕度和電流對(duì) LED 進(jìn)行加速老化，根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果得出 LED的壽命，從而建立壽命與溫度之間的關(guān)系。下面，我們
