eMMC高低溫試驗(yàn)箱

eMMC高低溫試驗(yàn)箱是一款專門針對eMMC、UFS、eMCP等顆粒存儲芯片進(jìn)行高低溫老化的設(shè)備。設(shè)備采用可程式系統(tǒng)控制，能夠同時支持大批量芯片同步老化測試，腔體可在產(chǎn)生高溫（低溫）的同時確保溫度精準(zhǔn)。

技術(shù)參數(shù)：

性能特點(diǎn)：

1：溫度精準(zhǔn)，產(chǎn)品周邊溫度穩(wěn)定控制在±3℃內(nèi)

2：升降溫速度快

3：可同時針對大批量芯片進(jìn)行老化測試

4：測試座獨(dú)立可拔插替換式，方便更換與維護(hù)

5：預(yù)留MES 系統(tǒng)對接接口

6：更換不同 socket board 即可兼容生產(chǎn) eMCP/eMCP/ePOP 產(chǎn)品

7：單顆DUT 獨(dú)立電源設(shè)計，保護(hù)產(chǎn)品

技術(shù)特點(diǎn)：

1.eMMC高低溫試驗(yàn)箱具有并測數(shù)高、寬溫度范圍、測試速率高等特點(diǎn)，可通過更換老化板支持多種芯片的測試。支持的溫度范圍為-40℃到150℃，芯片供電電壓寬范圍可調(diào)，支持NAND/UFS/eMMC等多種芯片的老化測試，根據(jù)芯片需求不同測試速率從200Mbps~11.6Gbps。

2.eMMC高低溫試驗(yàn)箱采用創(chuàng)新性的chamber設(shè)計，提供DUT極致的溫度均勻性；可將Final Test和Burn In測試集成到一個測試系統(tǒng)中，提供高低溫、高速、全功能的綜合系統(tǒng)測試解決方案。

配套軟件：

eMMC高低溫試驗(yàn)箱配套軟件包括PGM編輯器、Burn-in UI、診斷校準(zhǔn)工具等，其功能強(qiáng)大且易于使用的圖形環(huán)境可讓工程師快速開發(fā)全功能測試程序，從而縮短程序開發(fā)和調(diào)試時間。針對復(fù)雜的多插槽控制難題，Burn-in UI支持每個插槽運(yùn)行相同或不同的模式，降低測試成本。

如有eMMC高低溫試驗(yàn)箱的選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。