由于貼片式LED使用環(huán)境和條件各異，其燈珠在封裝完成后需進行可靠性實驗以驗證性能。壽命測試是評估LED燈珠性能的重要環(huán)節(jié)，而高溫老化實驗是其中的重要環(huán)節(jié)。高溫老化需要使用貼片式led高溫老化箱，下面我們來看看該產(chǎn)品的技術要求。
產(chǎn)品名稱：環(huán)儀儀器 貼片式led高溫老化箱
一、產(chǎn)品內(nèi)容：
1.老化設備：PCB基座表面開設有多個LED貼片焊盤，多個焊盤串聯(lián)后并聯(lián)有一個2PIN母端子，該母端子與老化排線配合連接；
2.測試裝置：用于連接鋁基座與測試裝置，壓接裝置的頸部下方設有多個壓接裝置，并在出線孔位處安裝多個多PIN公端子線，與多PIN母端子連接。
3.老化排線：為測試裝置提供電力支持，并確保每個LED的老化測試過程順利進行。
二、測試過程：
老化到相應時間后，將老化設備放置在測試卡座上，通過壓接裝置固定圓形鋁基座。測試卡座上的多PIN公端子線與老化設備上的多PIN母端子連接，實現(xiàn)電氣連通。此時，可通過開關控制器上的開關逐個對LED燈珠進行測試。開關控制器與電源連接，為測試提供電力，操作人員可根據(jù)需要打開或關閉相應開關，對每個LED燈珠的光通量、色溫、電壓等參數(shù)進行測量，對比測試數(shù)據(jù)來評估LED燈珠性能的好壞。
三、技術優(yōu)勢：
能夠同時對多個LED燈珠進行老化實驗，并且通過測試裝置可實現(xiàn)對每個燈珠的單獨測試，更客觀地模擬了燈珠模塊在實際使用中的老化情況，避免了單個測試帶來的局限性，使測試結果更能準確反映模塊化燈珠高溫老化的真實效果，為評估LED燈珠性能提供了更可靠的依據(jù)。
以上就是貼片式led高溫老化箱的技術方案，如有選型疑問，可以咨詢環(huán)儀儀器相關技術人員。
