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光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證

時(shí)間:2025-09-26 11:39:38 作者:環(huán)儀小編 點(diǎn)擊:

光儲(chǔ)逆變電源(光伏逆變器)是一種由半導(dǎo)體器件組成的電力調(diào)整裝置,主要用于把直流電力轉(zhuǎn)換成交流電力。由逆變器使用環(huán)境和失效機(jī)理分析,僅僅采用單一溫度、濕度和電應(yīng)力的單應(yīng)力加速模型不能適用于該型產(chǎn)品。

為了驗(yàn)證逆變器較高的可靠性指標(biāo),綜合考慮樣品成本、數(shù)量和試驗(yàn)周期等經(jīng)濟(jì)、時(shí)效和可行性因素,選用溫度-濕度(Peck)模型雙應(yīng)力壽命加速模型,并基于此加速模型進(jìn)行可靠性鑒定試驗(yàn),逆變器試驗(yàn)樣本量選為10臺(tái)。以下是逆變器的可靠性驗(yàn)證內(nèi)容。

試驗(yàn)設(shè)備:環(huán)儀儀器 光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖1)


試驗(yàn)樣品:10臺(tái)逆變器

試驗(yàn)?zāi)P停?/strong>溫度-濕度(Peck)

可靠性驗(yàn)證過(guò)程:

加速試驗(yàn)剖面的確定:

結(jié)合逆變器在使用的溫度、濕度環(huán)境,基于加速損傷理論選定的逆變器加速壽命模型符合Peck溫-濕應(yīng)力模型,該壽命-應(yīng)力模型是由溫度模型和濕度模型相乘耦合的雙應(yīng)力綜合模型,即:

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖2)


光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖3)

式中:

t-失效前時(shí)間;

A-常數(shù);

RH-相對(duì)濕度,單位為%;

n-常數(shù);

Ea-激活能,單位為eV;

k-波爾茨曼常數(shù),取值為8.617×10^-5eV/K;

T-絕對(duì)溫度,單位為K。

加速因子的確定:

針對(duì)逆變器的硬件組成以半導(dǎo)體和IC器件為主,IC器件常見(jiàn)故障的激活能一般在0.8~1.0 eV之間。結(jié)合類似電力電子產(chǎn)品研發(fā)的工程經(jīng)驗(yàn)及標(biāo)準(zhǔn)推薦,本次產(chǎn)品激活能取Ea=0.9 eV。

n的范圍在1~12之間,取典型值n=3。則加速因子為:

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖4)

式(2)中:

RHu—常規(guī)運(yùn)行下的百分比相對(duì)濕度,RHu=85%;

RHs—加速應(yīng)力下的百分比相對(duì)濕度,RHs=95%;

Tu—常規(guī)運(yùn)行下以K表示的溫度,Tu=308.15;

Ts—加速應(yīng)力下以K表示的溫度,Ts=338.15;

K—波爾茨曼常數(shù),取值為8.617×10^-5eV/K。

統(tǒng)計(jì)方案:

為了快速地驗(yàn)證該型逆變器可靠性指標(biāo)是否達(dá)到分配指標(biāo),綜合考慮確定使用方風(fēng)險(xiǎn)β為30%,選擇試驗(yàn)統(tǒng)計(jì)方案號(hào)為GJB899A—2009標(biāo)準(zhǔn)附錄A中圖A.24方案號(hào)30-1,拒收故障數(shù)為1。

如下表計(jì)算所示,當(dāng)10臺(tái)逆變器試驗(yàn)樣品按照上述試驗(yàn)應(yīng)力剖面進(jìn)行加速試驗(yàn)時(shí),出現(xiàn)1次責(zé)任故障或時(shí)間累計(jì)達(dá)到2 124.739 h時(shí)(兩者優(yōu)先滿足其一即可),即判決該逆變器通過(guò)可靠性鑒定。

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖5)

可靠性試驗(yàn)結(jié)果:

加速試驗(yàn)后,根據(jù)逆變器試驗(yàn)記錄統(tǒng)計(jì),經(jīng)過(guò)篩選后的10臺(tái)逆變器同時(shí)開(kāi)始試驗(yàn),在設(shè)定的加速試驗(yàn)剖面下加速運(yùn)行至261.5h,責(zé)任故障數(shù)r=0結(jié)束試驗(yàn),則10臺(tái)逆變器累計(jì)試驗(yàn)時(shí)間2 615 h,0失效,判為接收,通過(guò)試驗(yàn)。

對(duì)本次試驗(yàn)全過(guò)程進(jìn)行統(tǒng)計(jì),總的試驗(yàn)時(shí)間為T,責(zé)任故障數(shù)為r,根據(jù)GJB 899A-2009“A.5.4.4”可知,定時(shí)試驗(yàn)的驗(yàn)證區(qū)間,估計(jì)值和區(qū)間估計(jì)值的計(jì)算公式為:

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖6)


由于r=0,無(wú)法得到點(diǎn)估計(jì)值和置信上限,僅能進(jìn)行置信下限的估計(jì)。此處采用一種簡(jiǎn)便的MTBF置信下限的估算方法:

使用方風(fēng)險(xiǎn)β=30%時(shí),總試驗(yàn)時(shí)間為T=2 615 h,本次試驗(yàn)?zāi)孀兤饔?jì)算出的MTBF置信下限:

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖7)


又結(jié)合加速因子,推導(dǎo)出常規(guī)運(yùn)行環(huán)境下該型逆變器的MTBF置信下限:

光儲(chǔ)逆變電源高溫老化室基于Peck模型下的可靠性驗(yàn)證(圖8)


由此可知,在等效2 615 h可靠性試驗(yàn)結(jié)束時(shí),在70%置信度下逆變器MTBF的置信下限值為61 328 h,符合逆變器分配的可靠性指標(biāo)MTBF≮50 000 h的要求。

以上就是光儲(chǔ)逆變器Peck模型下的可靠性驗(yàn)證過(guò)程,如有試驗(yàn)疑問(wèn),可以咨詢環(huán)儀儀器相關(guān)技術(shù)人員。



標(biāo)簽: 逆變器老化柜

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