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為了實(shí)際工程對(duì)led進(jìn)行快速篩選和評(píng)價(jià)的需要，應(yīng)用高溫老化和光電性能測(cè)試的方法，對(duì)led燈具進(jìn)行了高溫老化試驗(yàn)并做了光電性能測(cè)試，分析其光電參數(shù)在老化過程中的變
高溫老化作為一種常用的老化測(cè)試手段模擬LED在現(xiàn)實(shí)使用條件中涉及到的各種因素，對(duì)LED產(chǎn)生老化的情況進(jìn)行相應(yīng)條件加強(qiáng)實(shí)驗(yàn)的過程，模擬LED的工作過程，考察其性能
LED高溫應(yīng)力試驗(yàn)箱適用于梅花板表貼LED、鋁基板表貼LED、COB封裝等形式的LED燈珠，進(jìn)行高溫環(huán)境下的恒流功率試驗(yàn)、階梯電流老化試驗(yàn)、間歇電流老化試驗(yàn)以及
為了獲得高溫條件下封裝材料對(duì) LED模組可靠性的影響，在 125 ℃環(huán)境溫度下，使用led模組高溫應(yīng)力試驗(yàn)箱同時(shí)對(duì)四種不同的樣品進(jìn)行恒定溫度的老化試驗(yàn)，研究其高
LED高溫加速老化中，老化就是讓產(chǎn)品超負(fù)荷工作而在短時(shí)間內(nèi)出現(xiàn)故障，避免在使用初期出現(xiàn)故障。投入使用幾小時(shí)后出現(xiàn)的故障稱為初始故障，老化主要消除這段時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生的
led模塊熱老化系統(tǒng)用于測(cè)試LED、LED芯片、燈珠、燈絲等產(chǎn)品，通過老化測(cè)試識(shí)別產(chǎn)品缺陷，并測(cè)量產(chǎn)品在高溫、高壓等嚴(yán)苛測(cè)試環(huán)境下的性能和安全性。可靠、準(zhǔn)確的老
為了達(dá)到滿意的合格率，LED模塊高溫老化幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先進(jìn)行老化。在LED模塊產(chǎn)品出廠前，通常要執(zhí)行老化處理，并經(jīng)過老化處理的產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試，將不合格的
為了預(yù)防LED的品質(zhì)問題，就要做好焊接封裝元器件失效之品質(zhì)控制，對(duì)LED產(chǎn)品進(jìn)行高溫老化測(cè)試，保證電子產(chǎn)品的可靠性。為了研究LED的高溫應(yīng)力失效分析，我們分析對(duì)
