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在電路板上焊接安裝的LED ，當安裝電路板在溫度變化較大的驅動條件或環(huán)境下使用時，會因為LED 外封裝和電路板的線膨脹系數(shù)不同導致各自的膨脹、收縮程度出現(xiàn)差異，
LED燈珠溫度循環(huán)試驗箱可以以5~15℃/min的溫變率，在溫度變化上做一連串的高、低溫循環(huán)測試，此試驗LED產(chǎn)品并非真正模擬實際情況。其目的在施加應力于試件上
對于出廠的LED模塊（即LED顯示模組），需要進行各個方面的性能測試，為了檢測OLED模組在高低溫環(huán)境下的工作性能，一般需要對LED模組進行快速溫變測試。下面是
LED模組的快速升降溫試驗需要使用LED模組快速升降溫試驗箱，試驗過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個循環(huán)，溫度循環(huán)試驗的嚴苛程度是以高/低溫度范圍
LED快速溫變試驗系統(tǒng)是用來確定產(chǎn)品在高溫、低溫快速或緩慢變化的氣候環(huán)境下的儲存、運輸、使用的適應性。試驗過程是以常溫低溫低溫停留高溫高溫停留常溫作為一個循環(huán)，
led濕熱可靠性試驗箱可以建立穩(wěn)定的測試環(huán)境，通過濕熱加速測試，用以測試LED的老化性能。同時，濕熱加速測試設備以簡單有效的促進濕熱加速測試的標準化，避免在各種
熱濕老化試驗是利用高溫高濕雙應力對LED燈具進行加速老化，推算出產(chǎn)品在該條件下的的壽命，并得出不同熱濕條件的可靠性和壽命。試驗中采用led模組恒溫恒濕試驗箱，在
LED的理論壽命超過lO萬小時，在實際使用中，大電流、高溫和高濕等都會產(chǎn)生和放大LED芯片的缺陷，加速燈具的老化速度。使用LED高溫高濕可靠性試驗箱對其進行老化
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