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由于 LED 技術(shù)的飛速發(fā)展,新結(jié)構(gòu)、新工藝層出不窮,LED 的可靠性問題仍然十分突出。LED 的壽命與器件工藝和工作條件有著密切的關(guān)系 ,針對 LED 在大電
對于 LED 光源的可靠性失效分析,一般采用加大應(yīng)力 (如高溫應(yīng)力和濕度應(yīng)力等) 的方法對樣品進(jìn)行加速老化 ,這樣可在短時間內(nèi)得到樣品失效信息并對其可靠性進(jìn)行分
LED模塊溫濕度加速老化試驗(yàn)箱是用于測試LED(發(fā)光二極管)在高低溫濕熱條件下的性能的設(shè)備。LED在不同環(huán)境下受到影響,試驗(yàn)箱可以模擬自然界中的濕熱環(huán)境,評估L
目前 LED 產(chǎn)品擁有幾萬小時的壽命,無法短時間內(nèi)發(fā)生老化失效現(xiàn)象,因此為了研究 LED 產(chǎn)品老化機(jī)理,我們將 LED 產(chǎn)品放置于高溫高濕的環(huán)境下通過加速老化的
LED 在高溫高濕下的工作壽命試驗(yàn)是利用恒定的溫度濕度和電流對 LED 進(jìn)行加速老化,根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果得出LED在此溫濕度下的工作壽命從而建立 LED 工作壽命與溫
LED燈珠的功能大多都會遭到周遭環(huán)境的溫濕度影響,如果長時間處于濕潤環(huán)境,LED燈珠電子設(shè)備,金屬部件不久就會破壞。因此,LED燈需要在led濕熱可靠性試驗(yàn)設(shè)備
對于 LED 來說,使其老化加速的因素包括高溫、大電流和較高的相對濕度等。高溫加速 LED器件老化的機(jī)制是較高的溫度會加快化學(xué)反應(yīng)速度,引起封裝材料的退化隨著溫
led燈珠在溫濕度環(huán)境下的工作應(yīng)力試驗(yàn)是利用恒定的溫濕度和電流對 LED 進(jìn)行加速老化,根據(jù)試驗(yàn)結(jié)果得出 LED的壽命,從而建立壽命與溫度之間的關(guān)系。下面,我們